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2025-02-14
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JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)（ε）及損耗測試儀（tgd）是目前針對PVDF薄膜材料，是一款真正意義上的絕緣薄膜材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀。是目前能夠處理的介電常數(shù)（ε）和介損（tgd）的圖譜。GB/T1693-2007主要用于測量高壓工業(yè)絕緣材料的介質(zhì)損耗角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路。主要可以測量電容器，互感器，變壓器，各種電工油及各種固體絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗
JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設(shè)備，測試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具，通過軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數(shù)（ε）器件的介電性能測量與分析，可測試以下參數(shù)隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時計算獲得反
PV520A-S超聲元件阻抗分析儀是由清華大學自動化系和中國科學院聲學所共同研制開發(fā)的。測試如下以及十多個參數(shù)：諧振頻率 Fs 、大電導(dǎo) Gmax 、帶F2-F1 、反諧振頻率 Fp 、品質(zhì)因數(shù) Qm 、自由電容 CT 、動態(tài)電阻 R1 、動態(tài)電感L1 、動態(tài)電容 C1 、靜態(tài)電容 C0 、有效機電耦合系數(shù) Keff 。用于壓電超聲器件和設(shè)備的檢測綜合性解決方案.也是目前高校和生產(chǎn)單位的重要檢測儀
TSDC-100型高低溫熱刺激電流測量儀,熱激勵去極化電流測量系(thermally stimulated depolar-ization currents,簡寫為TSDC或TSC)是電介質(zhì)材料在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時所產(chǎn)生的短路電流。基本方法是將試樣夾在兩電極之間，加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā)，然后施加一個直流的極化電壓，經(jīng)過一段時間使樣品充分極化，以便載流子向電極漂移或偶極子
JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測試儀是一款針對薄膜測試的專用設(shè)備，測試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具，通過軟件可以采集到介損（tgd）及介電常數(shù)（ε）器件的介電性能測量與分析，可測試以下參數(shù)隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律：電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù)，同時計算
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