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JK-150BPE型半導體冷熱臺又稱帕爾貼冷熱臺，利用半導體的熱-電效應(yīng)制冷，配合循環(huán)水散熱，在 -30~150℃的溫度范圍內(nèi)進行控溫，實現(xiàn)樣品在開放式 / 氣密 / 真空環(huán)境下的變溫光學、電學等測試。

半導體冷熱臺JK-120BCH采用半導體致冷，配合低溫循環(huán)液，實現(xiàn)從-40到180℃（選型）的控溫。 結(jié)構(gòu)緊湊，適用于各種變溫測試 氣密腔室設(shè)計，可通保護氣體 多探針測試 上位機軟件控制 支持改動或定制

半導體冷熱臺JK-120BPE、BPE100采用半導體冷熱控制，配合循環(huán)水散熱，實現(xiàn)從-25~120℃（選型）的控溫。無需液氮等致冷劑，具有無噪聲、無振動等特點?？梢詫崿F(xiàn)變溫光學測試，或者選配探針實現(xiàn)變溫電學測試。

探針冷熱臺JK-600C是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-190~600℃范圍內(nèi)精準控制，與其他電學儀表（如電橋、源表、萬用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。

探針熱臺JK-600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產(chǎn)品采用電阻加熱的方式，實現(xiàn)RT~600℃范圍內(nèi)精準控制，與其他電學儀表（如電橋、源表、萬用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。產(chǎn)品需要與溫度控制器配套使用，配套的上位機溫控軟件方便進行溫度設(shè)置及采集，提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進行定制化編程。

JKZC-UTS150微型冷熱腔是一種適配μTS拉伸臺的產(chǎn)品，包含拉伸、壓縮、三點彎模塊。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現(xiàn)-100~50℃ (高溫以實際數(shù)據(jù)為準)溫度下材料的動態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性測試。