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熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡(jiǎn)單實(shí)用而且又能較準(zhǔn)確地測(cè)量出某些物質(zhì)（如電介質(zhì)、絕緣材料、半導(dǎo)體、駐極體等）的微觀參數(shù)，熱刺激法是一面對(duì)材料升溫一面進(jìn)行測(cè)量，即非等溫測(cè)量。由于材料（例如介電材料）中的荷電粒子的微觀參數(shù)（如活化能h、松弛時(shí)間τ等）不同，用熱刺激法就很容易將材料中的各種不同h或τ的荷電粒子分離開(kāi)來(lái)，從而求出各自的參數(shù)。因?yàn)闊岽碳る娏髋c材料的

TDT-3000 Analyzer型擴(kuò)展型鐵電分析儀 是一款的高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。 模塊化設(shè)計(jì)的TDT-3000型鐵電分析儀 具有優(yōu)異的擴(kuò)展性，提供高達(dá)15中測(cè)試功能

TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，適用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷及鐵電器件等分析測(cè)試。

ZJ-4型靜壓電D33電壓電流測(cè)試儀是一款在原來(lái)的設(shè)備基礎(chǔ)上，額外增加了電壓和電流采集系統(tǒng)的功能，該功能主要是針對(duì)壓電PVDF薄膜，在不同的運(yùn)動(dòng)和力的變化條件下，測(cè)試其壓電性能變化，是研究壓電薄膜性能的重要設(shè)備。也是本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、應(yīng)用與研究部門的儀器。 二、參考標(biāo)準(zhǔn): GB3389.4-82《壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法 縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33的靜態(tài)測(cè)試》GB/T3389.5-

JKZC-YDZK03B型壓電介電阻抗分析儀是一款可以跟PC鏈接測(cè)試功能的壓電介電阻抗分析儀，內(nèi)置±12 V，±24V直流電壓，可以量測(cè)壓電/超聲器件之導(dǎo)納圓繪圖，電容/半導(dǎo)體材料/變?nèi)荻?jí)管量測(cè)DC偏壓特性(C-V 曲線)，高分子材料/介質(zhì)材料/電化學(xué)阻抗測(cè)量介電常數(shù)εr，采用自動(dòng)平衡技術(shù)，測(cè)試數(shù)據(jù)可靠，滿足目前試驗(yàn)測(cè)試要求，解決了目前測(cè)試壓電D33系數(shù)，又要測(cè)試壓電阻抗的系列問(wèn)題，為材料研究測(cè)

ZJ-4BN型壓電壓電薄膜D31測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）是為測(cè)量壓電材料的d33,D15塊體，D15圓管，D31薄膜系數(shù)常數(shù)而設(shè)計(jì)的專用儀器，它可用來(lái)測(cè)量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。特別是薄膜D31系數(shù)采用拉伸懸梁臂法進(jìn)行壓電常數(shù)測(cè)試，是一種新的測(cè)試方法，對(duì)于研究壓電材料和壓電PVDF薄膜有著重要意義，在材料生產(chǎn)和薄膜研究中有這要意義。 二、主要應(yīng)用領(lǐng)